160,00  netto

Minimalna wartość zamówienia: 300ml 

Tlenek grafenu w postaci dyspersji, zmieszany z wodą, acetonem lub izopropanolem. Dostępny zakres koncentracji <0,5% masy grafenu w masie dyspersji. Podana cena dotyczy 100ml dyspersji.

Wyczyść wybór
Porównaj

FL – GO: tlenek grafenu

  • Forma: trwała pasta lub zawiesina (dostępne różne % wt.)
  • Utlenianie sproszkowanego grafitu zmodyfikowaną metoda Hummersa
  • Rezultat spektroskopii Ramana: ID/IG >1,87;
  • Analiza elementarna (procentowo według masy):

C: >45%, H: <2,5%, N: <0,5%, O: <49%, others <4%

  • Analiza zanieczyszczeń XRF:

S(2,5%)>Ca(1%)>Mn(0,5%)>K(0,3%)>Cl(0,08%)=Fe(0,08%)>Cu(0,02%)=Zn(0,02%)>Ni(0,007%)>Cr(0,006%)

Waga

1g

Baza

H2O, Izopropanol, Aceton

Wt %

0,5%, 1%, Dowolny

1. GO – (graphene oxide) – tlenek grafenu [otrzymywany w pierwszej fazie otrzymywania grafenu chemicznego]

2. RGO – (reduced graphene oxide) – zredukowany tlenek grafenu [otrzymywany poprzez redukcję (usuniecie tlenu) GO;

3. PET, PMMA – [poli(tereftalan etylenu), poli(metakrylan metylu)] polimery wykorzystywane jako podłoże - nośnik grafenu;

4. SiC – węglik krzemu [materiał krystaliczny, będący jednym z optymalnych podłoży w procesie wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych dla zastosowań w elektronice wysokich mocy i częstotliwości];

5. GaN – azotek galu - materiał krystaliczny, podłoże kolejnej generacji dla zastosowań w elektronice wysokich mocy i częstotliwości – w fazie badań;

6. CVD (Chemical Vapor Deposition) – osadzanie z fazy gazowej, metoda wzrostu grafenu

7. SEM (Scanning Electron Microscopy) - skaningowa mikroskopia elektronowa

8. AFM (Atomic Force Microscopy) - mikroskopia sił atomowych

9. Raman (Raman Spectroscopy) - spektroskopia ramanowska

10. TEM (Transmission Electron Microscopy) - transmisyjna mikroskopia elektronowa
Back to Top