Każda dostarczana próbka posiada certyfikat jakości, którego głównym elementem jest wynik spektroskopii ramanowskiej w pojedynczym punkcie.

Porównaj

Prosimy o kontakt w celu wykonania dodatkowych pomiarów:

  • Mapa – wielopunktowa spektroskopia ramanowska,
  • Histogramy na bazie spektroskopii ramanowskiej,
  • Obrazy z mikroskopów AFM/SEM/TEM,
  • Obrazy z mikroskopu optycznego,
  • Rezystancja powierzchniowa,
  • Gęstość ładunku,
  • Mobilność elektronów etc.
1. GO – (graphene oxide) – tlenek grafenu [otrzymywany w pierwszej fazie otrzymywania grafenu chemicznego]

2. RGO – (reduced graphene oxide) – zredukowany tlenek grafenu [otrzymywany poprzez redukcję (usuniecie tlenu) GO;

3. PET, PMMA – [poli(tereftalan etylenu), poli(metakrylan metylu)] polimery wykorzystywane jako podłoże - nośnik grafenu;

4. SiC – węglik krzemu [materiał krystaliczny, będący jednym z optymalnych podłoży w procesie wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych dla zastosowań w elektronice wysokich mocy i częstotliwości];

5. GaN – azotek galu - materiał krystaliczny, podłoże kolejnej generacji dla zastosowań w elektronice wysokich mocy i częstotliwości – w fazie badań;

6. CVD (Chemical Vapor Deposition) – osadzanie z fazy gazowej, metoda wzrostu grafenu

7. SEM (Scanning Electron Microscopy) - skaningowa mikroskopia elektronowa

8. AFM (Atomic Force Microscopy) - mikroskopia sił atomowych

9. Raman (Raman Spectroscopy) - spektroskopia ramanowska

10. TEM (Transmission Electron Microscopy) - transmisyjna mikroskopia elektronowa
Back to Top